產品列表PRODUCTS LIST
3555電池測試儀產品概述 立即測定電池劣化情況:小型二次電池用 ● 通過對電池的內電阻和內電壓的測量 ● 以合格（pass），警告（warning）及不合格（fail）三段指示 ● 使本系列產品能夠立即得到電池狀態(tài)的結果
IM7587阻抗分析儀產品概述 可信賴的機型3GHz ● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz ● 測量時間：較快0.5ms（模擬測量時間） ● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊
IM7585阻抗分析儀產品概述 高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產量！測量時間：較快0.5ms，測量值偏差0.07% ● 測量頻率：1MHz~1.3GHz ● 測量時間：較快0.5ms（模擬測量時間） ● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
IM7583阻抗分析儀產品概述 高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產量！測量時間：較快0.5ms ● 測量頻率：1MHz~600MHz ● 測量時間：較快0.5ms（模擬測量時間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
IM7581阻抗分析儀產品概述 較快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
IM7580A阻抗分析儀產品概述 較快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測量，節(jié)省空間的半個機架大小 ● 測量頻率1MHz~300MHz ● 測量時間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
IM3590化學阻抗分析儀產品概述 用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC（電氣雙層電容） ● 適用于離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源 ● 1臺機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查 ● 可測量電池的無負載狀態(tài)產生的內部電阻 ● 較快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化 ● 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應
IM3570阻抗分析儀產品概述 1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查 ● 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
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